低価格平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM
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非常にコンパクトかつ低価格な 平面基板透過率/反射率計測ユニットです。
卓上に設置可能な非常にコンパクトな平面基板透過率/反射率計測ユニットです。
積分球を使用することにより、低価格ながら「簡単に」「誰でも」「再現性良く」測定する事が出来ます。 また、試料の厚み変化や傾きにも影響が少ない計測方法となっています。 ＜特徴＞ ・OD値(吸光度)も測定可能。 ・CIE、UCSマップより、目で見て色を判別可能。 ・遮光フードにより、外乱光をカット。 
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| 計測波長 | 380nm～1000nm(ハロゲンランプ) ※300nm～の領域については別途ご相談ください |
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| 測定内容 | LV-RTM(R) 反射率 LV-RTM(T) 透過率 LV-RTM(RT) 反射率/透過率 |
| 繰り返し再現性 | ±1%(380nm～400nm) ±0.5%(400nm～800nm) ±1%(800nm～1000nm) |
| 反射基準 | BK7基準板、アルミ高反射基準板（LVにての校正値付き） |
| 透過基準 | 10%、50%透過率基準フィルタ（LVにての校正値付き） |
| ソフトウェア | 透過率、反射率、OD、測色（XYZ、xy、L*a*b* 等） |
■詳細
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①遮光フードにより、外乱光をカット。 |
②サンプル落下防止板設置。 | |
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